Материалы по тегу «Ansys Sherlock»

На МЭС 2020 эксперты КАДФЕМ представят решения для моделирования устройств 5G и анализа надежности электроники
10 ноября, 2020
На МЭС 2020 эксперты КАДФЕМ представят решения для моделирования устройств 5G и анализа надежности электроники
24 ноября 2020 года в рамках IХ Всероссийской научно-технической конференции «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем –2020», организованной Институтом проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук (ИППМ РАН), состоится онлайн-сессия «Презентации научно-технических достижений российских и зарубежных компаний и организаций, способствующих развитию микроэлектроники в России». Эксперты обсудят широкий круг актуальных вопросов – от автоматизации проектирования микро- и наноэлектронных схем и систем (МЭС), систем на кристалле и IP-блоков, до опыта разработки цифровых, аналоговых, радиотехнических функциональных блоков СБИС и особенностей проектирования СБИС для нанометровых технологий.
Обновления и улучшения в Ansys Sherlock
02 сентября, 2020
Обновления и улучшения в Ansys Sherlock
Вебинар посвящен основным обновлениям и улучшениям в Ansys Sherlock 2020 R2 – программном обеспечении для расчета надежности и прогнозирования отказов электронных изделий. Ansys Sherlock непрерывно совершенствует свой функционал, предоставляя пользователям возможность анализировать печатные платы, электронные компоненты и системы, которые год от года становятся все более сложными в изготовлении.
Анализ надежности печатной платы в Ansys Sherlock
01 июня, 2020
Анализ надежности печатной платы в Ansys Sherlock
Вебинар посвящен возможностям Ansys Sherlock для анализа надежности печатных плат. В ходе вебинара продемонстрированы основные этапы подготовки модели и разобраны несколько типов расчетов для прогнозирования времени до отказа печатной платы.
Оставить запрос
Поля, отмеченные звездочкой (*), обязательны для заполнения
Хотите всегда быть в курсе последних новостей и событий?
Подпишитесь на рассылку
Подписаться