Новости

На МЭС 2020 эксперты КАДФЕМ представят решения для моделирования устройств 5G и анализа надежности электроники

24 ноября 2020 года в рамках IХ Всероссийской научно-технической конференции «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем – 2020», организованной Институтом проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук (ИППМ РАН), состоится онлайн-сессия «Презентации научно-технических достижений российских и зарубежных компаний и организаций, способствующих развитию микроэлектроники в России». Эксперты обсудят широкий круг актуальных вопросов – от автоматизации проектирования микро- и наноэлектронных схем и систем (МЭС), систем на кристалле и IP-блоков, до опыта разработки цифровых, аналоговых, радиотехнических функциональных блоков СБИС и особенностей проектирования СБИС для нанометровых технологий. 

В рамках конференции с докладом о технологиях моделирования Ansys для оборудования базовых станций и пользовательских устройств 5G выступит Александр Круглов, руководитель направления развития бизнеса «Автономный транспорт и сети 5G» АО «КАДФЕМ Си-Ай-Эс». Эксперт продемонстрирует платформу разработки Ansys, предназначенную для точного моделирования различных многодисциплинарных процессов, протекающих в аппаратуре сетей 5G. Платформа поддерживает высокопроизводительные вычисления и может быть развернута в масштабах всего предприятия, позволяя разработчикам и инженерам-специалистам сотрудничать и вместе разрабатывать 5G системы. Она также дает возможность моделировать элементы сетей 5G от микроуровня систем на кристалле (SoC) до макроуровня моделирования антенных решеток и каналов распространения с учетом мест расположения и воздействия помех.

Еще один доклад будет посвящен возможностям Ansys Sherlock для анализа надежности электроники – его представит Ксения Мещерякова, ведущий инженер по техподдержке Ansys Electronics Solutions/EM АО «КАДФЕМ Си-Ай-Эс». Ansys Sherlock является единственным программным продуктом, основанным на физике отказов, который дает быстрые и точные прогнозы ресурса и надежности электронного оборудования на уровне компонентов, печатных плат и сборок на ранних стадиях проектирования. Анализ печатной платы в Ansys Sherlock позволяет уменьшить количество необходимых итераций физического тестирования и повышает вероятность того, что прототипы пройдут квалификационные тесты с первого раза.

Узнать подробности о конференции и зарегистрироваться можно на официальном сайте.

 

 

Оставить запрос
Поля, отмеченные звездочкой (*) обязательны для заполнения
Хотите всегда быть в курсе последних новостей и событий?
Подпишитесь на рассылку
Подписаться