Материалы по тегу «Электроника»

К современным электронным системам предъявляются очень высокие требования. В связи с этим все более важным становится прогнозирование надежности печатных плат (ПП). Необходимость в сокращении затрат и времени выхода на рынок побудила компании чаще использовать моделирование, позволяющее сократить время проектирования и количество физических испытаний. При этом крайне важно, чтобы инженеры обращались к моделированию на ранних стадиях проектирования. Это обеспечивает принятие наилучших решений и создание продуктов, отвечающих или превосходящих поставленные цели по надежности. Последние обновления в Ansys Sherlock, а также в области анализа надежности электроники в Ansys 2021 R2 помогут пользователям достичь своих целей при разработке продукции.

При определении надежности изделия и потенциальных рисков отказа электронного оборудования инженеры часто используют два типа анализа надежности: анализ среднего времени между отказами (средней наработки на отказ, MTBF) на основе нормативных документов и стандартов и анализ физики отказов на основе моделирования.

Перед участниками выступят эксперты из различных отраслей промышленности: аэрокосмической отрасли и двигателестроения, ТЭК, транспортного машиностроения, судостроения, электронной, фармацевтической и пищевой промышленности, а также АПК.

24 ноября 2020 года в рамках IХ Всероссийской научно-технической конференции «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем –2020», организованной Институтом проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук (ИППМ РАН), состоится онлайн-сессия «Презентации научно-технических достижений российских и зарубежных компаний и организаций, способствующих развитию микроэлектроники в России». Эксперты обсудят широкий круг актуальных вопросов – от автоматизации проектирования микро- и наноэлектронных схем и систем (МЭС), систем на кристалле и IP-блоков, до опыта разработки цифровых, аналоговых, радиотехнических функциональных блоков СБИС и особенностей проектирования СБИС для нанометровых технологий.

01-02 декабря 2020 г. состоится XVII конференция CADFEM/Ansys – крупнейшее в России мероприятие в области применения систем инженерного анализа и численного моделирования, которая пройдет под девизом «В фокусе цифровой трансформации промышленности», определяющим инженерное численное моделирование как ключевую технологию и путь к цифровой трансформации и созданию цифровых двойников.

АО «КАДФЕМ Си-Ай-Эс» представляет очередное крупное обновление своего сайта. Теперь пользователям станут доступны новые разделы, позволяющие узнать больше о возможностях применения программных продуктов Ansys и сопутствующих решениях – «Отрасли применения», «Технологические тренды» и «Кому будут полезны решения Ansys». Кроме того, один из новых разделов будет полностью посвящен Particleworks – новому бессеточному CAE-решателю для выполнения сложных расчетов течения жидкости, который недавно стал доступен в портфолио КАДФЕМ.